在材料表征領域,確定物質的晶體結構是理解其物理化學性質的基礎。X射線衍射(XRD)技術是進行物相鑒定、晶體結構解析的“黃金標準”。而布魯克X射線衍射儀以其分辨率、穩定的性能和強大的軟件分析平臺,為材料、化學、地質、制藥等眾多學科的研究與質量控制提供了可靠的數據支撐。

XRD技術基于布拉格定律,當X射線照射到晶體樣品時,會產生具有特定規律的衍射花樣。通過對衍射花樣的角度和強度進行測量,可以像“解碼”一樣獲得物質的晶體結構信息,包括:
1、物相鑒定:通過與標準粉末衍射數據庫(如ICDDPDF)進行比對,快速、準確地確定樣品中的晶相組成。
2、晶體結構解析:確定原子在晶胞中的精確位置,即解析出新物質的晶體結構。
3、殘余應力、織構、晶粒尺寸與微觀應變分析:提供材料微觀結構與力學性能的關鍵信息。
布魯克X射線衍射儀的核心優勢在于其能夠生成高質量、高信噪比的衍射數據,這得益于:
1、高精度測角儀:高角度分辨率和重復性,是獲得精確晶面間距數據的基礎。
2、高性能X射線源與探測器:提供高強度的入射X射線,并配合高速、高靈敏度的探測器,大幅提升數據采集效率與質量。
3、光學系統:精確的單色化和準直系統,確保入射X射線的質量,降低背景噪聲。
布魯克不僅提供硬件設備,還配備了功能強大的軟件套件,如TOPAS、DIFFRAC.EVA、DIFFRAC.LEPTOS等,覆蓋從常規物相分析到高級晶體結構精修的全流程。其系統設計注重自動化與易用性,降低了操作門檻,同時保證了數據的可重復性和可靠性。
布魯克X射線衍射儀代表了XRD技術的高水準。其出色的可靠性、精確的數據質量和全面的分析能力,使其成為科研機構和高技術企業進行材料分析的核心裝備。選擇布魯克XRD,意味著為您的材料研究選擇了值得信賴的結構解析方案。