技術文章
TECHNICAL ARTICLES在工程力學和材料科學領域，對材料的內部結構和力學行為的深入研究至關重要。這不僅關系到材料的應用性能，還直接影響到工程安全和效率。目前，我們要介紹的是Skyscan2214和MTS（材料力學試驗機）這一對在力學研究中不能缺少的黃金搭檔。Skyscan2214：高分辨率X射線成像系統Skyscan2214是由Bruker公司生產的高分辨率X射線成像系統，它在材料內部結構研究中扮演著重要角色。以下是Skyscan2214的一些關鍵特性和應用：1.高分辨率成像能力Skyscan221...
掠入射衍射介紹掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一種常用方法。薄膜樣品在Bragg-Brentano對稱衍射中通常表現出非常微弱的衍射信號，原因在于X射線可穿透薄膜照射到底層襯底，由于襯底其較大的散射體積，導致其衍射信號在終端信號中占據主導地位。然而，如果不是BB幾何的發散光路，而是一束細的平行光束照向樣品表面，這樣它只穿透薄膜而不穿透下方的襯底材料，那么來自薄膜的衍射信號則會成為主導。通過優化平行光束的入射角度，可以...
在現代半導體制造業中，對晶圓片表面質量的精確檢測是至關重要的。晶圓片在線面掃檢測儀作為一種先進的檢測設備，因其能夠實時監控晶圓片表面的微小缺陷，被廣泛應用于半導體生產線上。晶圓片在線面掃檢測儀的設計充分考慮了高效檢測的需求。它通常由一個高速掃描系統和一個高分辨率成像系統組成，能夠在晶圓片傳輸過程中實時捕捉表面圖像，并通過圖像處理算法自動識別和分類各種缺陷。這種設計不僅能夠提高生產效率，還能夠顯著降低因缺陷導致的產品報廢率。晶圓片在線面掃檢測儀還具備多種高級功能，以滿足不同的應...
上篇介紹了俄歇電子能譜（AES）的定性分析、定量分析及化學態分析功能，本篇我們將繼續分享更多AES高級功能，其中包括表面形貌觀察、深度分析及顯微分析。表面形貌觀察AES作為一種先進的電子束探針表征技術，在納米級乃至更高精度的空間分辨要求上展現出了強大的優勢，因此非常適用于納米尺度材料的表征。與掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）等依賴電子束探針的技術相似，AES在電子束聚焦能力上表現出色，尤其是場發射電子束技術的融入，極大地提升了其空間分辨能力。當前PHI710...
順磁共振譜儀(EPR)是一種基于電子自旋共振現象，用于研究含有未成對電子的順磁物質的儀器。其工作原理和優勢如下：工作原理1.建立磁場：首先在儀器中建立一個強磁場，通常使用超導磁體來產生很高的磁場。2.激發電磁輻射：使用微波源產生特定頻率的微波輻射，這個頻率通常是與順磁物質的共振頻率相匹配的。微波輻射被引導到樣品中，并與樣品中的未成對電子進行相互作用。3.收集信號：通過所謂的共振回路(resonator)收集樣品中電子的共振信號。共振回路是通過感應線圈和諧振電路組成的。4.分析...
在半導體制造領域，質量控制是確保芯片性能和可靠性的關鍵環節。隨著技術的發展，晶圓片在線面掃檢測儀成為了這一過程中不可或缺的工具。晶圓片在線面掃檢測儀是一種高精度的檢測系統，專門用于監測晶圓片表面的微小缺陷。這些缺陷可能包括顆粒污染、劃痕或圖案不完整等，它們都可能影響最終產品的性能。通過實時監測，該設備能夠及時發現問題并反饋給生產線，從而避免不良品的產生。該檢測儀基于光學掃描技術。一束激光或強光被引導至晶圓片表面，并通過高分辨率的攝像頭捕捉反射回來的光線。如果晶圓片表面存在任何...
氬離子設備對于表面分析，樣品表面極易被污染。為了清潔被污染的固體表面,在能譜分析中,常常利用離子設備發出的離子束對樣品表面進行濺射剝離,以清潔表面。利用離子設備發出的離子束定量地剝離一定厚度的表面層,然后再分析表面成分,這樣就可以獲得元素成分沿深度方向的分布圖。同時，離子設備也兼具中和樣品表面荷電的作用。一、氬離子設備原理圖▲圖1氬離子設備原理圖二、氬離子設備實圖▲圖2氬離子設備圖三、氬離子設備主要作用清潔(樣品表面被污染)清潔被污染的樣品表面,利用離子設備發出的離子束對樣品...
在現代科學研究和工業檢測領域，高精度成像技術的重要性日益凸顯。X射線三維顯微鏡作為一種先進的無損檢測工具，以其獨特的穿透能力和高分辨率成像特性，成為了材料科學、生物醫學以及工業質量控制等多個領域的研究熱點。X射線三維顯微鏡基于X射線與物質相互作用時的吸收差異。當X射線穿過物體時，不同密度和組成的材料會對X射線產生不同程度的衰減，這種衰減信息被探測器捕捉并轉化為電信號，最終通過計算機處理生成三維圖像。與傳統的二維X射線成像相比，三維顯微鏡能夠提供更為豐富的空間結構信息，使得研究...
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